電子負(fù)載在開關(guān)電源測試時(shí)的三種方法
1、負(fù)載效應(yīng)測試
負(fù)載效應(yīng)是用于靜態(tài)性能測試，被測電源在預(yù)定負(fù)載變化時(shí)穩(wěn)定輸出，電子負(fù)載用于負(fù)載效應(yīng)測試，測試過程中會受到銜接線影響，因此需要給電子負(fù)載進(jìn)行遠(yuǎn)端補(bǔ)償。
2、PARD測試：PARD測試在參數(shù)恒定情況下，在規(guī)則帶寬范圍內(nèi)輸出電壓會對均勻值的周期性和隨機(jī)性產(chǎn)生偏離，需要具體看測試環(huán)境來選擇有效值還是峰峰值，其中峰峰值可提供幅度，在短時(shí)間內(nèi)可確定尖峰信息，但其的帶寬會受到采樣頻率影響，如果被測電源的頻率高就需要借助更高帶寬的示波器；而有效值能確定預(yù)期的信噪比，有效值需要通過有效值電壓表測試得出。
3、瞬態(tài)響應(yīng)測試：這種測試方法主要用于動態(tài)性能測試。瞬態(tài)響應(yīng)測試不能單從應(yīng)用方面評價(jià)性能，因?yàn)槠鋾艿揭恍┎环€(wěn)定因素影響，如輸出電容、反應(yīng)環(huán)響應(yīng)時(shí)間、系統(tǒng)瞬態(tài)電流等。
推薦閱讀
