DCDC 轉(zhuǎn)換器（直流 - 直流轉(zhuǎn)換器）的耐久性測(cè)試需模擬長(zhǎng)期高負(fù)荷運(yùn)行場(chǎng)景，確保其在汽車(chē)、工業(yè)控制等領(lǐng)域的使用壽命。測(cè)試方案以 IEC 62368 和 GB/T 14714 為依據(jù)，核心包括負(fù)荷循環(huán)測(cè)試、高溫耐久性測(cè)試和電應(yīng)力老化測(cè)試。
負(fù)荷循環(huán)測(cè)試通過(guò)動(dòng)態(tài)負(fù)載模擬實(shí)際工況，將 DCDC 轉(zhuǎn)換器設(shè)定為額定輸入電壓（如 12V/24V），輸出端連接可編程電子負(fù)載，在 10%-100% 額定負(fù)載之間以 10%/ 分鐘的速率交替變化，每小時(shí)完成 10 次循環(huán)，累計(jì)測(cè)試時(shí)間 10000 小時(shí)。測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)輸出電壓紋波（需≤50mV 峰峰值）、轉(zhuǎn)換效率（保持在 90% 以上），每 1000 小時(shí)拆解檢查一次，要求電感線(xiàn)圈無(wú)過(guò)熱變色、電容無(wú)鼓包。
高溫耐久性測(cè)試在額定負(fù)載下進(jìn)行，將 DCDC 置于 70℃環(huán)境箱內(nèi)連續(xù)運(yùn)行 2000 小時(shí)，每隔 200 小時(shí)記錄關(guān)鍵元器件溫度（如 MOS 管結(jié)溫≤125℃、電感溫度≤105℃），采用熱成像儀檢測(cè)表面溫度分布，溫差需≤15℃。對(duì)于工業(yè)級(jí) DCDC，需額外進(jìn)行 125℃高溫存儲(chǔ)測(cè)試（無(wú)電狀態(tài)下放置 1000 小時(shí)），恢復(fù)常溫后測(cè)試性能參數(shù)偏差≤5%。
電應(yīng)力老化測(cè)試重點(diǎn)考核元器件耐受能力，包括輸入電壓極限測(cè)試（在標(biāo)稱(chēng)輸入電壓的 1.2 倍和 0.8 倍下分別運(yùn)行 1000 小時(shí)）、開(kāi)關(guān)頻率老化測(cè)試（在設(shè)計(jì)頻率的 1.1 倍下連續(xù)運(yùn)行 5000 小時(shí)）。測(cè)試末期進(jìn)行參數(shù)標(biāo)定，要求輸出電壓精度保持在 ±2% 以?xún)?nèi)，紋波系數(shù)變化≤10%，且無(wú)功能性故障。對(duì)于車(chē)載 DCDC，還需增加反向電壓測(cè)試（輸入端正負(fù)極反接 3 秒，施加 1.5 倍額定電壓），驗(yàn)證保護(hù)電路耐久性，測(cè)試后需能正常工作。
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